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當(dāng)前位置：首頁 >產(chǎn)品中心>電阻率測定儀>多功能極片電阻測量系統(tǒng)>ZKJPD-I極片電阻測試儀
簡要描述：極片電阻測試儀-是一款專為電池極片、導(dǎo)電薄膜、柔性電子材料等設(shè)計(jì)的精密電阻測量設(shè)備，可滿足研發(fā)和質(zhì)量控制中對材料導(dǎo)電性能的精確測量需求。
產(chǎn)品型號：ZKJPD-I廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家 更新時(shí)間：2025-06-11訪 問 量：328 詳細(xì)介紹
極片電阻測試儀
ZKJPD-I
產(chǎn)品概述：
極片電阻測試儀-電池極片中，影響電導(dǎo)率的主要因素包括箔基材與涂層的結(jié)合界面情況，導(dǎo)電劑分布狀態(tài)，顆粒之間的接觸狀態(tài)等；通過電池極片的電導(dǎo)率能夠判斷極片電阻中微觀結(jié)構(gòu)的均勻性，預(yù)測電池的性能。同時(shí)鋰離子電池極片電阻是影響電池內(nèi)阻、電壓以及自動放電率的重要因素。
目前測試極片電阻的方法有四探針法和兩探針法，四探針法和兩探針法都無法對被測物體表面施加壓力，且極片的表面涂層由顆粒組成，與探針的接觸面積小，只測量了電阻兩端的電壓值和電流值，故探針無法全面表征極片電阻。
無論是四探針法還是兩探針法都只能表征表面薄層的電阻（即只能用于測量被測物表面的薄層電阻），對于較厚且存在成分梯度電池涂層無法全面表征極片的電阻值，另外，它也不能測試真實(shí)極片中涂層與基材之間的接觸電阻。四探針測試法僅測量非導(dǎo)電基材極片，且與測試極片接觸點(diǎn)面積小，極片顆粒大，數(shù)據(jù)無參考意義。
本公司所研發(fā)的可以對電池極片施加可變壓力，可對壓力值、極片電阻值和厚度變化值進(jìn)行即時(shí)測量，并建立二次電池極片的受壓、延展與電阻的變化關(guān)系
通過對極片施加不同壓強(qiáng)，可以使極片表面的涂層顆粒產(chǎn)生不同程度的形變，從而改變極片的導(dǎo)電性能。通過測量數(shù)據(jù)可以分析不同壓強(qiáng)下極片的阻值特性，從而對改良極片提供數(shù)據(jù)參考。
測試極片電阻阻值時(shí)，電流從極片電阻的端面穿過，使得對極片電阻電阻測量更加精確。
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